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1 mpi-tof mass spectroscopy
Микроэлектроника: многофотонная ионизационная времяпролётная масс-спектроскопияУниверсальный англо-русский словарь > mpi-tof mass spectroscopy
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2 MPI-TOF mass spectroscopy
багатофотонна іонізаційна часопролітна масс-спектроскопіяEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > MPI-TOF mass spectroscopy
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3 spectroscopy
спектроскопія - Auger electron spectroscopy
- charge transient spectroscopy
- deep-level transient spectroscopy
- EDX spectroscopy
- electron energy loss spectroscopy
- energy dispersive X-ray spectroscopy
- energy loss spectroscopy
- Fourier transform IR spectroscopy
- gap state spectroscopy
- glancing-angle X-ray spectroscopy
- infrared absorption spectroscopy
- laser spectroscopy
- Mossbauer spectroscopy
- MPI-TOF mass spectroscopy
- multiphoton ionization time-of-flight mass spectroscopy
- photoelectronic spectroscopy
- photoluminescence spectroscopy
- Raman spectroscopy
- resonant tunneling spectroscopy
- thermal desorption spectroscopy
- tunneling spectroscopy
- ultraviolet photoemission spectroscopy
- X-ray spectroscopyEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > spectroscopy
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4 многофотонная ионизационная времяпролётная масс-спектроскопия
Microelectronics: mpi-tof mass spectroscopy, multiphoton ionization time-of-flight mass spectroscopyУниверсальный русско-английский словарь > многофотонная ионизационная времяпролётная масс-спектроскопия
См. также в других словарях:
Mass spectrometry software — is software used for data acquisition, analysis, or representation in mass spectrometry. Contents 1 MS/MS peptide identification 1.1 Database search algorithms 1.1.1 SEQUEST 1.1.2 … Wikipedia
EBIS — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
EBIT-Quelle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Electron Beam Ion Source — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Elektronenstrahl-Ionenfalle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Elektronenstrahl-Ionenquelle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Elektronenstrahlionenfalle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Elektronenstrahlionenquelle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Nondestructive testing — or Non destructive testing (NDT) is a wide group of analysis techniques used in science and industry to evaluate the properties of a material, component or system without causing damage.[1] The terms Nondestructive examination (NDE),… … Wikipedia