Оже-микроскопия

См. также в других словарях:

• ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — совокупность методов исследования с помощью электронных микроскопов (МЭ) микроструктур тел (вплоть до атомно молекулярного уровня), их локального состава и локализованных на поверхностях или в микрообъёмах тел электрич. и магн. полей… …   Физическая энциклопедия

• сканирующая электронная микроскопия — Термин сканирующая электронная микроскопия Термин на английском scanning electron microscopy Синонимы растровая электронная микроскопия Аббревиатуры СЭМ, SEM, РЭМ Связанные термины микроскоп, микроскопия, электронный микроскоп Определение… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

• ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, совокупность методов исследования с помощью электронных микроскопов микроструктур тел, их локального состава и локализованных на поверхностях или в микрообъемах тел электрических и магнитных полей. На первом этапе… …   Энциклопедический словарь

• ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — совокупность электронно зондовых методов исследования микроструктуры твердых тел, их локального состава и микрополей (электрических, магнитных и др.) с помощью электронных микроскопов (ЭМ) приборов, в к рых для получения увелич. изображений… …   Химическая энциклопедия

• ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объекта, в к ром вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 1000 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума. Физ …   Физическая энциклопедия

• ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ — определение хим. состава микрообъемов или тонких слоев твердого тела. Осн. метрологич. характеристика локальность, т. е. площадь или объем области, в к рой возможно обнаружение или определение хим. элемента с заданной погрешностью. Размер этой… …   Химическая энциклопедия

• РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ — (рентгеновские лучи), эл. магн. ионизирующее излучение, занимающее спектр. область между гамма и УФ излучением в пределах дл. волн от 10 4 до 103 ? (от 10 12 до 10 5 см). Открыты в 1895 нем. физиком В. К. Рентгеном. Р. и. с l2? мягким. Источники… …   Физическая энциклопедия

• ПОВЕРХНОСТЬ — граница разделамежду двумя контактирующими средами. В разл. ситуациях употребляются такжетермины: свободная, или атом но чистая, П. (П. твёрдого тела в вакууме …   Физическая энциклопедия

• Растровый электронный микроскоп — …   Википедия

• ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЯВЛЕНИЙ — изучает химические силы, действующие на поверхности. В общем случае химия поверхности рассматривает свойства трех состояний вещества твердого (Т), жидкого (Ж) и газообразного (Г) и дает описание вещества как фазовой системы. Однако если два… …   Энциклопедия Кольера

• МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ ФИЗИЧЕСКОЕ — применение физических принципов и экспериментальных методов для изучения и целенаправленного улучшения характеристик металлов и сплавов. Среди экспериментальных методов, применяемых к металлам и сплавам, ведущим является микроскопия.… …   Энциклопедия Кольера