ПЭМ

Химическое оружие: ИАЦ

◊ Iумы-пэмы шIын пренебречь кем-чем-л., игнорировать кого-л.

1. нос

/ Iэпкълъэпкъым щыщ Iыхьэу зэрыпамэу икIи зэрыбауэу цIыхум и напэм, нэгъуэщI псэущхьэхэми я нэкIум хэтыр.

2. клюв

/ Къуалэбзухэм, джэдкъазхэм я жьэр щиухым пыт къупщхьэхэр.

Къазыпэ. Бзуупэ.

* Уащхуэм еджэу джэдыр кIуийуэ Дыдым хуэдэу и пэр хеIу. Б. Ф.

3. передняя носовая часть чего-л.

/ Зыгуэрым и къыщIэдзапIэ Iыхьэ.

* Нил щхьэ фэкъур пэкIэ ибзуэ Кхъухь ин гуэрым дретхъуей. КIу. Б.

4. кончик, острие

/ КIапэ, папцIапIэ.

* БжэIупэм зы чы къурагъ ин гуэрым и пэм хъуржыныр пипхэри Хъуэжэ хитIащ, зыдэкIуэм нэсу къэсыжыху илъагъун хуэдэу. Къэб. фольк.

5. в знач. предлога с род. пад. впереди кого-чего-л.

/ Зыгуэрыр уи ужьу, уи кIэ иту.

6. начало чего-л.

/ КъегъэжьапIэ, къыщIэдзапIэ.

* И пэр умыщIэу и кIэр пщIэркъым. (погов.) Фэ фи хасэм си къыхыхьэ и пэр хъуэхъуу, и кIэр хъуанэу.. тхьэм имыщIкIэ. Нарт.

И пэ лъы ивэжауэ балбес.

* Уахьмакъыу, уи пэ лъы ивэжауэ дунейм утетмэ, абы {Нурхьэлий} къыщыщIам гу лъыптэн? Iуащхь. ПэкIэ къешэкIын водить кого-л. за нос.

* - Сэ пэкIэ сыкъевмышэкIыу си бохъшэр къысхуэвгъуэтыж! - жеIэ Тыкъыр. Щ. Т. ПэкIэ псы ефэн быть глупцом (букв. пить носом воду).

* Пэжщ, Нурхьэлий абы хуэдиз бзаджагъэ хэлъкъым, ауэ пэкIэ псы ефэркъым. КI. А. ПэкIэ {пэнцIывкIэ} щIегъэфэн (щIегъэсэн, щIегъэхуэн) = пэкIэ щIыр егъэвэн. ПэкIэ щIыр егъэвэн заставить кого-л. пропахать землю носом.

* Щыгъэт, Астемыр, пэкIэ щIыр уэзмыгъавэмэ, си тхьэрыIуэщ. Iуащхь. И пэм изэрыхьын случайно оказаться перед кем-л. (о животных, о человеке). Пэм ипкуэным хуэдэу щабэ необычно мягкий. И пэм кърихун исходить от кого-л. (напр. о слухе).

* Псом ящхьэр зи пэ кърихур Бэхъукъуэмрэ Алыджэмрэ я гупырщ. КI. Т. {И} пэм (и пащхьэм) къизэрыхьын = и пэм изэрыхьын. {И} пэм лъы къихун разбить кому-л. нос до крови. Пэм мафIэ бзий кърихун метать искры. Пэр дэгъэзеин задирать нос. Пэр дэкъеин = пэр дэгъэзеин. Пэр дэлъэфеин 1) шмыгать носом 2) переносное напускать на себя жалкий вид. Пэр зэкIуэцIынэн заложить - о носе. И пэр иджыри хуэлъэщIыжыркъым нос не дорос. Пэр икъэн = пэр дэгъэзеин. И пэр имылъагъужыху (ефэн) напиться до положения риз. Пэр кудэн ударять в нос (о резком, неприятном запахе). Пэр къижын течь - о соплях. Пэр къилъэфын сморкаться. И пэр къыпыхун повесить нос.

* КъыщIыхьар кIуэри и щхьэр егухауэ, и пэр къыпыхуауэ стIол кIапэм деж тIысащ, фIэхъуси сэлами щымыIэу. Къ. Хь. Си пэр позгъэупщIынщ клянусь! (букв. дам свой нос отрезать, если..).

* {Долэт:} - Къэрал пхъуантэм} щхъухь ирамыхьамэ си пэр позгъэупщIынщ. Iуащхь. Пэр хэIун совать ( свой) нос куда-л. И пэр хуэлъэщIын утереть нос кому-л.

* Абы и пэр хуэлъэщIын хуейщ, армыхъумэ тIэкIу зыкъыфIэщIыж хъуащ. Къэб. И пэр щIивэн споткнуться; потерпеть неудачу.

* Хэт и фIэщ хъунт а къэхъуар къэхъуну, хэт и гугъэнт Долэт лъэпэрапэу и пэр щIивэну. КI. А. Пэр щIым хущыхуэн показать, где раки зимуют (букв. тереть нос о землю).

* ПхуэзгъэпцIащ, а уи пэр щIым пхущызмыхуэмэ, щыгъэт, уи мыIуэхуми уи бэлагъ хыумыIу. Iуащхь. {И} пэр щIым щыхъуэн = пэр щIым хущыхуэн.

пэ вей засохшие сопли

/ Пэшын Iув, пэшын гъуа.

пэ гъуанэ ноздри

/ Пэм иIэ гъуанэ щыбауэкIэ жьы эрыкIуэр.

пэ кIуэцI внутренность, полость носа

/ Пэм и кум щыIэхэр, и кIуэцIым итхэр.

пэ тIей курносый

/ И щхьэмкIэ худэкъея пэ, пэтIинэ.

пэ Iушэ кривоносый

/ Зи пэр мызахуэ, лъэныкъуэкIэ ешэкIа.

 

электронный микроскоп
Микроскоп для наблюдения и фотографирования многократного (до 106 раз) увелич. изображения объекта, в к-ром вместо световых лучей используются пучки эл-нов, ускоренных до больших энергий (30—100 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума (1& +10 Па). В 1928 г. немец. ученые М. Кнолль и Р. Руске приступили к созданию первого магнитного просвечив. э. м. (ПЭМ) и спустя три года получили изображение объекта, сформиров. пучками эл-нов. Разрешающая способность (PC) совр. ПЭМ составляет 0,2—1,0 нм. Толщина, к-рую можно «просветить» эл-ным пучком, зависит от ускоряющего напряжения. В э. м. с напряжением 100 кВ изучают объекты толщиной от одного до неск. сотен нанометров.
ПЭМ подразделяют на три группы: э. м. высокого разрешения (0,2-0,3 нм), упрощенные ПЭМ и э. м. с повышенным ускоряющим напряжением. К 1-й группе относят универс. м. многоцел. назнач. с дополнит, устр-вами и приставками, позволяющими наклонять объект в разных плоскостях на большие углы, нагревать, охлаждать, деформировать его, вести РСА и пр. Упрощ. ПЭМ предназн. дляисследований, в к-рых не требуется высокая PC. Они более просты по конструкции, их отличают меньшее (обычно 60-80 кВ) ускор. напряж. и более низкая его стабильность. PC этих ПЭМ 0,6-1,5 нм. ПЭМ с повыш. ускоряющим напряжением (от 200 кВ) предназн. для исследования объектов в 2-3 раза толще ис-след. на обычных РЭМ. Их PC достигает 0,3— 0,5 нм. Созданы тж. сверхвысоковольтные э. м. (СВЭМ) высотой от 5 до 15 м с ускор. напряжением 0,5-0,65; 1-1,5 и 3 MB, предназнач. для исслед. объектов толщиной до 10 мкм. PC СВЭМ в 10-20 раз превосходит PC 100-кВ ПЭМ.
[ http://metaltrade.ru/abc/a.htm]

Тематики

• металлургия в целом

EN

• electron microscope

1. Электронный микроскоп

D. Elektronenmikroskop

E. Electron Microscope

F. Microscope électronique

-

Микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками средствами электронной оптики

Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа

  Transmission Electron Microscope

 (TEM)

 Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

  Прибор, создающий увеличенное до просвечивающий электронный микроскоп10⁶ раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.

 

 Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

 Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение.

  Transmission Electron Microscope

 (TEM)

 Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

  Прибор, создающий увеличенное до TEM10⁶ раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.

 

 Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

 Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение.

  Transmission Electron Microscope

 (TEM)

 Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

  Прибор, создающий увеличенное до transmission electron microscope10⁶ раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.

 

 Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

 Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение.

 

просвечивающий электронный микроскоп
ПЭМ
Ндп. трансмиссионный электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, проходящими сквозь этот объект.
[ ГОСТ 21006-75]

Недопустимые, нерекомендуемые

• трансмиссионный электронный микроскоп

Тематики

• микроскопы

Синонимы

• ПЭМ

EN

• transmission electron microscope

DE

• Durchstrahlungs-Elektronenmicroskop

2. Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

Ндп. Трансмиссионный электронный микроскоп

D. Durchstrahlungs-Elektronenmicroskop

E. Transmission electron microscope

Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа

 

просвечивающий электронный микроскоп
ПЭМ
Ндп. трансмиссионный электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, проходящими сквозь этот объект.
[ ГОСТ 21006-75]

Недопустимые, нерекомендуемые

• трансмиссионный электронный микроскоп

Тематики

• микроскопы

Синонимы

• ПЭМ

EN

• transmission electron microscope

DE

• Durchstrahlungs-Elektronenmicroskop

2. Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)

Ндп. Трансмиссионный электронный микроскоп

D. Durchstrahlungs-Elektronenmicroskop

E. Transmission electron microscope

Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа

(пэщIокIуэт) неперех. гл. немного отойти, отъехать от кого-чего-л. спереди

/ И пэм икIын, и пэм къыIукIуэтын.

(пэщIелъхьэ) перех. гл. подложить что-л. под кого-что-л. спереди

/ И пэм щыгъэтIылъын, и пэм щIэлъхьэн.

(пэщIэлъщ) неперех. гл. 1. лежать, находиться перед кем-чем-л.

/ И пэм щыгъэтIылъауэ щытын, и пэм щIэлъын.

2. кубано-зеленчукские см. къыпэщылъын.

* ЩIалэм Iуэхушхуэ пэщIэлът. Черк. фольк.

(пэщIех) перех. гл. убрать кого-что-л. из-под кого-л. спереди

/ И пэм ихын, къэщтауэ и пэм Iухын.

(пепхэ) перех. гл. привязать что-л. к концу чего-л.

/ Зыгуэр зыгуэрым и кIэм, и пэм пыгъэбыдэн (кIапсэ сыт хуэдэкIэ).

* Хъуэжэ бжэIупэм зы чы къуэрагъ ин гуэрым и пэм хъыдан пипхэри хитIащ, зыдэкIуэм нэсу къэсыжыху илъагъун хуэдэу. Хъу. и таур.

  Relaxation Time

 Время релаксации

  Время, за которое измеряемая характеристика системы уменьшится в е раз по сравнению с исходным значением. Replica: Реплика: Способ получения отпечатка поверхности твердого тела для ее изображения методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). С поверхности такого тела снимается отпечаток в виде тонкой плёнки углерода, коллодия, формвара и др., повторяющий рельеф поверхности и рассматриваемый в ПЭМ. Обычно предварительно на реплику в вакууме напыляется под скользящим (малым к поверхности) углом слой сильно рассеивающего электроны тяжёлого металла (например, Pt), оттеняющего выступы и впадины геометрического рельефа.

  Relaxation Time

 Время релаксации

  Время, за которое измеряемая характеристика системы уменьшится в е раз по сравнению с исходным значением. Replica: Реплика: Способ получения отпечатка поверхности твердого тела для ее изображения методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). С поверхности такого тела снимается отпечаток в виде тонкой плёнки углерода, коллодия, формвара и др., повторяющий рельеф поверхности и рассматриваемый в ПЭМ. Обычно предварительно на реплику в вакууме напыляется под скользящим (малым к поверхности) углом слой сильно рассеивающего электроны тяжёлого металла (например, Pt), оттеняющего выступы и впадины геометрического рельефа.

5.2.1.3 Объект possessed_physical_quantity_space

Объект possessed_physical_quantity_space является подтипом объекта general_property_ association, который определяет объект Physical_quantity_space (как определено в ПЭМ) для объекта Class_of_possession_of_property (как определено в ПЭМ).

EXPRESS-спецификация:

*)

ENTITY possessed_physical_quantity_space

SUBTYPE OF (general_property_association);

SELF\general_property_association.base_definition: physical_quantity_space;

WHERE

link_to_possession: (‘PROPERTY_SPACE_MIM.CLASS_OF_POSSESSION_OF_PROPERTY_BY_ ACTIVITY’ IN TYPEOF (SELF\general_property_association.derived_definition)) OR (‘PROPERTY_SPACE_MIM.CLASS_OF_POSSESSION_OF_PROPERTY_BY_PRODUCT’ IN TYPEOF (SELF\general_property_association.derived_definition));

END_ENTITY;

(*

Определение атрибута

Источник: ГОСТ Р ИСО/ТС 10303-1080-2009: Системы автоматизации производства и их интеграция. Представление данных об изделии и обмен этими данными. Часть 1080. Прикладные модули. Пространство свойств