-
1 stuck-at-X fault
неисправность типа «постоянное неизвестное значение», константная неисправность – X; см. также S-a-XАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > stuck-at-X fault
-
2 stuck-at-Z fault
неисправность типа «постоянное высокоимпедансное состояние», константная неисправность - Z; см. также S-a-ZАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > stuck-at-Z fault
-
3 stuck-line fault
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > stuck-line fault
-
4 stuck-on fault
дефект типа «постоянно включённый затвор» на входе МОП-структуры ( не сводящийся к константной неисправности)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > stuck-on fault
-
5 stuck-open fault
дефект типа «постоянно отключённый затвор» на входе МОП-структуры ( сводящий к константной неисправности на соответствующем входе)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > stuck-open fault
-
6 floating gate fault
дефект типа «плавающий затвор» в МОП-схемах ( представимый в виде константной неисправности); см. также MOS-stuck faultАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > floating gate fault
-
7 MOS-stuck fault
дефект типа «плавающий затвор» в МОП-схемах; см. floating gate faultАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > MOS-stuck fault
-
8 S-a-X
stuck-at-X — неисправность типа «постоянное неизвестное значение», константная неисправность – X; см. stuck-at-X faultАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > S-a-X
-
9 S-a-Z
stuck-at-Z — неисправность типа «постоянное высокоимпедансное состояние», константная неисправность – Z; см. stuck-at-Z faultАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > S-a-Z
-
10 неисправность, установленная в состояние 0
Microelectronics: stuck-at-zero fault, stuck-low faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность, установленная в состояние 0
-
11 неисправность, установленная в состояние 1
Microelectronics: stuck-at-one fault, stuck-high faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность, установленная в состояние 1
-
12 неисправность типа короткое замыкание
Microelectronics: bridge fault, bridging fault, short fault, stuck-at-short faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность типа короткое замыкание
-
13 неисправность типа обрыв цепи
Microelectronics: open fault, stuck-at-open faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность типа обрыв цепи
-
14 залипание единицы
Information technology: stuck-at-1 fault -
15 залипание нуля
Information technology: stuck-at-0 fault -
16 неисправность типа константная единица
Information technology: stuck-at-1 faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность типа константная единица
-
17 неисправность типа константный нуль
Information technology: stuck-at-0 faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность типа константный нуль
-
18 неисправность типа постоянное высокоимпедантное состояние
Microelectronics: stuck-at-z faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность типа постоянное высокоимпедантное состояние
-
19 неисправность типа постоянное неизвестное значение
Microelectronics: stuck-at-x faultУниверсальный русско-английский словарь > неисправность типа постоянное неизвестное значение
-
20 константная неисправность
константная неисправность
(напр. используется при тестировании схем)
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
3.2 константная неисправность (stuck-at fault): Неисправность аппаратного средства, вызванная переходом элемента устройства в одно из неизменяемых состояний, например, при «залипании» контактов реле.
Источник: ГОСТ Р 53195.5-2010: Безопасность функциональная связанных с безопасностью зданий и сооружений систем. Часть 5. Меры по снижению риска, методы оценки оригинал документа
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > константная неисправность
См. также в других словарях:
Fault coverage — refers to the percentage of some type of fault that can be detected during the test of an electronic system, usually an integrated circuit. High fault coverage is particularly valuable during manufacturing test, and techniques such as Design For… … Wikipedia
Fault friction — describes the relation of friction to fault mechanics. Rock failure and associated earthquakes are very much a fractal operation (see Characteristic earthquakes). The process remains scale invariant down to the smallest crystal. Thus, the… … Wikipedia
Fault model — A fault model is an engineering model of something that could go wrong in the construction or operation of a piece of equipment. From the model, the designer or user can then predict the consequences of this particular fault. Fault models can be… … Wikipedia
Stuck-at fault — A Stuck at fault is a particular fault model used by fault simulators and Automatic test pattern generation (ATPG) tools to mimic a manufacturing defect within an integrated circuit. Individual signals and pins are assumed to be stuck at Logical… … Wikipedia
Single Stuck Line — is a fault model used in digital circuits. It is used for post manufacturing testing, not design testing. The model assumes one line or node in the digital circuit is stuck at logic high or logic low. When a line is stuck it is called a fault.… … Wikipedia
Semiconductor fault diagnostics — are predictive software algorithms which are used to refine and localize the circuitry responsible for the failure of scan based devices. [cite conference| last=Crowell| first=G| coauthors=Press, R.| title=Using Scan Based Techniques for Fault… … Wikipedia
SSL — can refer to:In computing and electronics: * Secure Sockets Layer, a communications protocol, predecessor to Transport Layer Security * Server Side Language, a category of programming languages used on the web which execute on the server * S/SL… … Wikipedia
Automatic test pattern generation — ATPG (acronym for both Automatic Test Pattern Generation and Automatic Test Pattern Generator) is an electronic design automation method/technology used to find an input (or test) sequence that, when applied to a digital circuit, enables testers… … Wikipedia
2009–2011 Toyota vehicle recalls — Two of the vehicles under recall: the Toyota Camry (top) and the Toyota Corolla Three separate but related recalls of automobiles by Toy … Wikipedia
Defective pixel — Close up of an LCD, showing a dead green subpixel Defective pixels are pixels on a liquid crystal display (LCD) not performing as expected. The ISO standard ISO 13406 2 distinguishes between three different types of defective pixels,[1][2] while… … Wikipedia
Spirit rover — (MER A) Artist s concept of Rover on Mars Operator NASA Mission type Rover Launch date … Wikipedia