-
1 двойная фокусировка ионного пучка
двойная фокусировка ионного пучка
двойная фокусировка
Фокусировка ионного пучка по направлению в одной плоскости и по скорости или энергии
[ ГОСТ 15624-75]Тематики
Синонимы
EN
DE
FR
Русско-французский словарь нормативно-технической терминологии > двойная фокусировка ионного пучка
-
2 тройная фокусировка ионного пучка
тройная фокусировка ионного пучка
тройная фокусировка
Фокусировка ионного пучка по направлению в двух плоскостях и по скорости или энергии
[ ГОСТ 15624-75]Тематики
Синонимы
EN
DE
FR
Русско-французский словарь нормативно-технической терминологии > тройная фокусировка ионного пучка
-
3 фокусировка ионного пучка по направлению
фокусировка ионного пучка по направлению
фокусировка по направлению
Фокусировка ионов, имеющих различное начальное направление в одной или двух плоскостях.
[ ГОСТ 15624-75]Тематики
Синонимы
EN
DE
FR
Русско-французский словарь нормативно-технической терминологии > фокусировка ионного пучка по направлению
-
4 фокусировка ионного пучка по скорости
фокусировка ионного пучка по скорости
фокусировка по скорости
Фокусировка ионов, имеющих различную начальную скорость
[ ГОСТ 15624-75]Тематики
Синонимы
EN
DE
FR
Русско-французский словарь нормативно-технической терминологии > фокусировка ионного пучка по скорости
-
5 фокусировка ионного пучка по энергии
фокусировка ионного пучка по энергии
фокусировка по энергии
Фокусировка ионов, имеющих различную начальную энергию
[ ГОСТ 15624-75]Тематики
Синонимы
EN
DE
FR
Русско-французский словарь нормативно-технической терминологии > фокусировка ионного пучка по энергии
См. также в других словарях:
Ion optics — involves the focusing of plasmas and ion streams, usually in mass spectrometry.Electric field manipulation* Electrostatic lens ** Einzel lens * Electrostatic analyzerMagnetic field manipulation* Quadrupole deflectoree also* Mass to charge ratio * … Wikipedia
Ion Creangă — Creangă redirects here. For other uses, see Creangă (surname). Ion Creangă Nică al lui Ştefan a Petrei Ion Torcălău Ioan Ştefănescu Born 1837 or 1839 Târgu Neamţ Died … Wikipedia
Ion Negoiţescu — Born August 10, 1921(1921 08 10) Cluj Died February 6, 1993(1993 02 06) (aged 71) Munich Pen name … Wikipedia
Ion beam — An ion beam is a type of particle beam consisting of ions. Ion beams have many uses in electronics manufacturing (principally ion implantation) and other industries. Today s ion beam sources are typically derived from the mercury vapor thrusters… … Wikipedia
Ion Storm Inc. — Infobox Company company name = Ion Storm Inc. company company type = Defunct foundation = November 15, 1996 location city = Dallas, Texas location country = United States key people = John Romero, Tom Hall, Jerry O Flaherty, Todd Porter, Warren… … Wikipedia
ION Media Networks — Infobox Company company name = ION Media Networks company company type = Public (OTC: IION.PK) foundation = West Palm Beach, Florida (1991) location = West Palm Beach, Florida key people = R. Brandon Burgess num employees = 433 (2005) industry =… … Wikipedia
Secondary ion mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Secondary ion mass spectrometry caption =CAMECA IMS3f Magnetic SIMS Instrument acronym = SIMS classification =Mass spectrometry analytes = Solid surfaces, thin films related = Fast atom bombardment… … Wikipedia
Quadrupole ion trap — Scheme of a Quadrupole ion trap of classical setup with a particle of positive charge (dark red), surrounded by a cloud of similarly charged particles (light red). The electric field E (blue) is generated by a quadrupole of endcaps (a, positive)… … Wikipedia
Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the … Wikipedia
Plasma-immersion ion implantation — (PIII) [cite book | title = Materials Science of Thin Films | author = Milton Ohring | publisher = Academic Press | year = 2002 | isbn = 0125249756 | url = http://books.google.com/books?id=SOt yFjV xwC pg=PA267… … Wikipedia
Sensitive high resolution ion microprobe — The sensitive high resolution ion microprobe (SHRIMP) is a large diameter, double focusing secondary ion mass spectrometer (SIMS). The SHRIMP is primarily used for geological and geochemical applications. It can rapidly measure the isotopic and… … Wikipedia