-
1 electron probe microanalysis
(EPMA)Электронно-зондовый микроанализФизические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью электронной пушки - вакуумного устройства, обычно диода, в котором электроны вылетают из катода благодаря термоэлектронной эмиссии и ускоряются электрическим полем. Фокусировку пучков осуществляют электронными линзами, создающими необходимые электрические и магнитные поля. В методе используют первичные медленные (с энергией Е0 10-103 эВ) и быстрые (Е0 103-106 эВ) электроны. После взаимодействия пучка первичных электронов с поверхностью исследуемого образца можно регистрировать упруго или неупруго рассеянные электроны, вторичную электронную эмиссию, эмиссию десорбированных атомов или ионов, электромагнитное излучение в рентгеновской или оптической области, наведенный в образце электрический ток или ЭДС.Russian-English dictionary of Nanotechnology > electron probe microanalysis
-
2 electron beam microanalysis
Engineering: EBMУниверсальный русско-английский словарь > electron beam microanalysis
-
3 electron microscopy and microanalysis
Optics: EMMAУниверсальный русско-английский словарь > electron microscopy and microanalysis
-
4 electron probe microanalysis
Makarov: EPMAУниверсальный русско-английский словарь > electron probe microanalysis
-
5 electron probe microanalysis
электронно-зондовый микроанализ (способ анализа металлов в биологическом материале по их характерному индуцированному электронами рентгеновскому излучению; проводится в сканирующем электронном микроскопе)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > electron probe microanalysis
-
6 EMMA
electron microscope-microprobe analyzer — электронный микроанализатор, ЭММАelectron microscope and microprobe analyser — система, включающая электронный микроскоп с высокой разрешающей способностью и микрозондовый анализатор и применяющаяся для исследования сегрегации алюминия по границам зёренexpanded metal manufactures association — Ассоциация производителей сплавов, расширяющихся при застыванииelectron microscope microanalysis — см. electron probe microanalysis -
7 анализ электронно-зондовый
Русско-английский научный словарь > анализ электронно-зондовый
-
8 электронно-зондовый микроанализ
electron microprobe analysis, electron probe microanalysisРусско-английский политехнический словарь > электронно-зондовый микроанализ
-
9 електронно-зондовий рентгеноспектральний мікроаналіз
electron probe microanalysis (скор. EPMA)Українсько-англійський словник з аналітичної хімії > електронно-зондовий рентгеноспектральний мікроаналіз
-
10 рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ
Русско-английский физический словарь > рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ
-
11 электронно-зондовый микроанализ
Русско-английский физический словарь > электронно-зондовый микроанализ
-
12 elektronimikroanalyysi
• electron probe microanalysis -
13 elektronowa mikroskopia i mikroanaliza
• electron microscopy and microanalysisSłownik polsko-angielski dla inżynierów > elektronowa mikroskopia i mikroanaliza
-
14 mikroanaliza sondą elektronową
• electron probe microanalysisSłownik polsko-angielski dla inżynierów > mikroanaliza sondą elektronową
-
15 Рентгеноспектральный микроанализ
Русско-английский словарь по прикладной математике и механике > Рентгеноспектральный микроанализ
-
16 электронно-зондовый анализ
Русско-английский словарь по микроэлектронике > электронно-зондовый анализ
-
17 электронно-зондовый анализ
Русско-английский словарь по электроэнергетике > электронно-зондовый анализ
-
18 E.P.M.A
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > E.P.M.A
-
19 электронно-зондовый микроанализ
(EPMA)Электронно-зондовый микроанализФизические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью электронной пушки - вакуумного устройства, обычно диода, в котором электроны вылетают из катода благодаря термоэлектронной эмиссии и ускоряются электрическим полем. Фокусировку пучков осуществляют электронными линзами, создающими необходимые электрические и магнитные поля. В методе используют первичные медленные (с энергией Е0 10-103 эВ) и быстрые (Е0 103-106 эВ) электроны. После взаимодействия пучка первичных электронов с поверхностью исследуемого образца можно регистрировать упруго или неупруго рассеянные электроны, вторичную электронную эмиссию, эмиссию десорбированных атомов или ионов, электромагнитное излучение в рентгеновской или оптической области, наведенный в образце электрический ток или ЭДС.Russian-English dictionary of Nanotechnology > электронно-зондовый микроанализ
-
20 анализ микрорентгеноспектральный
• анализ m микрорентгеноспектральныйenglish: électron probe microanalysis, X-ray microanalysis, electron microprobe analysisdeutsch: Elektronenstrahl-Mikroanalyse ffrançais: micro-analyse f aux rayons-XРусско-английский (-немецко, -французский) металлургический словарь > анализ микрорентгеноспектральный
- 1
- 2
См. также в других словарях:
Electron retrodiffuse — Électron rétrodiffusé Les électrons rétrodiffusés (back scattered electrons en anglais) sont des électrons résultant de l impact d un faisceau d électrons dit primaire et d un échantillon. Les électrons primaires sont entrés en collision avec des … Wikipédia en Français
electron probe microanalysis — Electron Probe Microanalysis (EPMA) Электронно зондовый микроанализ Физические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
Electron microscope — Diagram of a transmission electron microscope A 197 … Wikipedia
Électron rétrodiffusé — Les électrons rétrodiffusés (back scattered electrons en anglais) sont des électrons résultant de l impact d un faisceau d électrons dit primaire et d un échantillon. Les électrons primaires sont entrés en collision avec des noyaux d’atomes de… … Wikipédia en Français
Electron energy loss spectroscopy — In electron energy loss spectroscopy (EELS) a material is exposed to a beam of electrons with a known, narrow range of kinetic energies. Some of the electrons will undergo inelastic scattering, which means that they lose energy and have their… … Wikipedia
Electron Backscatter Diffraction — EBSD Muster Electron backscatter diffraction (EBSD) ist eine kristallografische Technik, mit der die Struktur von Kristallen analysiert werden kann. EBSD Systeme werden größtenteils in Rasterelektronenmikroskopen oder… … Deutsch Wikipedia
electron probe microanalysis — noun a method of analysing tiny quantities of a substance by bombarding it with a narrow beam of electrons and examining the resulting X ray emission spectrum …
Scanning electron microscope — These pollen grains taken on an SEM show the characteristic depth of field of SEM micrographs … Wikipedia
Environmental scanning electron microscope — Wool fibers imaged in an ESEM by the use of two symmetrical plastic scintillating backscattered electron detectors … Wikipedia
Auger electron spectroscopy — (AES; Auger pronounced|oːʒeː in French) is a common analytical technique used specifically in the study of surfaces and, more generally, in the area of materials science. Underlying the spectroscopic technique is the Auger effect, as it has come… … Wikipedia
Microscopy and Microanalysis — Discipline … Wikipedia
