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Sperrverhalten

См. также в других словарях:

  • ICT-Testsystem — Das ICT Testsystem (ICT steht für In Circuit Test) dient zum Prüfen von unbestückten Leiterplatten oder von bestückten Elektronikbaugruppen. Beim ICT Test steht die Prüfung der Bauelementparameter einer bestückten Baugruppe oder der elektrischen… …   Deutsch Wikipedia

  • Universaltransistoren und -dioden — Die Kurzbezeichnungen TUP, TUN, DUG, DUS für Universaltransistoren und dioden stehen für die Begriffe Transistor Universal PNP , Transistor Universal NPN , Diode Universal Germanium und Diode Universal Silizium . Sie wurden 1971 von der… …   Deutsch Wikipedia

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