Sekundärionen-Massenspektrometrie

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• Sekundärionen-Massenspektrometrie — (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) und niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

• Sekundärionen-Massenspektrometrie — antrinių jonų masių spektrometrija statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. secondary ion mass spectrometry vok. Sekundärionen Massenspektrometrie, f rus. вторично ионная масс спектрометрия, f; масс спектрометрия на вторичных ионах,… …   Radioelektronikos terminų žodynas

• Sekundärionen-Massenspektrometrie — Se|kun|där|io|nen Mas|sen|spek|t|ro|me|t|rie [↑ sekundär (1)]; Abk. SIMS; Syn.: Ionenstrahl Mikroanalyse (IMA, IMMA, IPMA, ISMA): ein Verfahren der ↑ Massenspektroskopie zur qual. u. quant. Analyse der Oberflächen von Werkstoffen mit Hilfe einer… …   Universal-Lexikon

• Sekundärionen-Massenspektroskopie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

• Massenspektrometrie — Als Massenspektrometrie werden Verfahren zum Messen der Masse von Atomen oder Molekülen bezeichnet. Die Massenspektrometrie zählt nicht zu den Methoden der Spektroskopie, da es nicht um Spektren von elektromagnetischer Strahlung geht. Die zu… …   Deutsch Wikipedia

• Tandem-Massenspektrometrie — Die Massenspektrometrie ist ein Verfahren zum Messen des Masse zu Ladung Verhältnisses m/q von Teilchen. Dazu wird die zu untersuchende Substanz in die Gasphase überführt, ionisiert und die ionisierten Teilchen durch ein elektrisches Feld… …   Deutsch Wikipedia

• SIMS — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

• Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

• Sekundärionenmassenspektrometer — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

• Sekundärionenmassenspektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

• GCxGC-TOF-MS — Die Massenspektrometrie ist ein Verfahren zum Messen des Masse zu Ladung Verhältnisses m/q von Teilchen. Dazu wird die zu untersuchende Substanz in die Gasphase überführt, ionisiert und die ionisierten Teilchen durch ein elektrisches Feld… …   Deutsch Wikipedia