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Massenanalysator

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  • Sekundärionen-Massenspektrometrie — (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) und niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

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  • Sekundärionenmassenspektrometer — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

  • Sekundärionenmassenspektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… …   Deutsch Wikipedia

  • Stardust (Sonde) — Missionsverlauf Start 7. 2. 1999 Kurskorrektur DSM 1 18. 1. – 22. 1. 2000 Größte Entfernung von der Sonne 10. 2. 2000 1. Staubsammelphase …   Deutsch Wikipedia

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