-
21 растровый электронный микроскоп
растровый электронный микроскоп
РЭМ
Ндп. сканирующий электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом.
[ ГОСТ 21006-75]Недопустимые, нерекомендуемые
Тематики
Синонимы
EN
DE
3. Растровый электронный микроскоп (РЭМ)
Ндп. Сканирующий электронный микроскоп
D. Rasterelelektronenmikroskop
E. Scanning electron microscope
-
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > растровый электронный микроскоп
-
22 эмиссионный электронный микроскоп
эмиссионный электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
EN
DE
5. Эмиссионный электронный микроскоп
D. Emissions-Elektronenmikroskop
E. Emission electron microscope
-
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > эмиссионный электронный микроскоп
-
23 промежуточный источник
3.17 промежуточный источник (intermediate source): В основном, источник, формирующий изображение на сетчатке, такой большой, что тепловой поток в радиальном направлении (перпендикулярно оптической оси) от центра изображения к ближайшей границе биологической ткани соизмерим с тепловым потоком в осевом направлении (параллельно оптической оси).
Удлиненный промежуточный источник - источник, формирующий на сетчатке изображение большего размера, чем размер, на который действует максимально возможная экспозиция от малого источника и от большого источника. Это удлинение необходимо потому, что некоторый глаз подвижен и может захватить большее поле излучения, которое в единицах МВЭ указано в представленных таблицах стандарта.
Примечание - В настоящем стандарте промежуточный источник в его основном значении воздействует на сетчатку в углах между 1,5 и 100 мрад, т.е. диаметр изображения на сетчатке лежит между 25 и 1700 мкм. Эти пределы относятся к времени экспозиции меньше, чем 0,7 с.
В настоящем стандарте удлиненный промежуточный источник охватывает углы между 11 и 100 мрад, т.е. диаметр изображения на сетчатке лежит между 187 и 1700 мкм. Эти пределы не превышают время экспозиции больше 10 с.
Для времени экспозиции между 0,7 и 10 с стягиваемый угол промежуточного источника зависит от времени экспозиции (таблица 3).
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > промежуточный источник
-
24 mirror electron microscope
зеркальный электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта, являющегося катодом электронного зеркала.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
EN
DE
6. Зеркальный электронный микроскоп
D. Spiegelelektronenmikroskop
E. Mirror electron microscope
-
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта, являющегося катодом электронного зеркала
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > mirror electron microscope
-
25 reflection electron microscope
отражательный электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, отраженными этим объектом.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
EN
DE
4. Отражательный электронный микроскоп
D. Reflexions-Eletronenmikroskop
E. Reflection electron microscope
-
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, отраженными этим объектом
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > reflection electron microscope
-
26 scanning electron microscope
растровый электронный микроскоп
РЭМ
Ндп. сканирующий электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом.
[ ГОСТ 21006-75]Недопустимые, нерекомендуемые
Тематики
Синонимы
EN
DE
3. Растровый электронный микроскоп (РЭМ)
Ндп. Сканирующий электронный микроскоп
D. Rasterelelektronenmikroskop
E. Scanning electron microscope
-
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > scanning electron microscope
-
27 emission electron microscope
эмиссионный электронный микроскоп
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
EN
DE
5. Эмиссионный электронный микроскоп
D. Emissions-Elektronenmikroskop
E. Emission electron microscope
-
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > emission electron microscope
-
28 intermediate source
3.17 промежуточный источник (intermediate source): В основном, источник, формирующий изображение на сетчатке, такой большой, что тепловой поток в радиальном направлении (перпендикулярно оптической оси) от центра изображения к ближайшей границе биологической ткани соизмерим с тепловым потоком в осевом направлении (параллельно оптической оси).
Удлиненный промежуточный источник - источник, формирующий на сетчатке изображение большего размера, чем размер, на который действует максимально возможная экспозиция от малого источника и от большого источника. Это удлинение необходимо потому, что некоторый глаз подвижен и может захватить большее поле излучения, которое в единицах МВЭ указано в представленных таблицах стандарта.
Примечание - В настоящем стандарте промежуточный источник в его основном значении воздействует на сетчатку в углах между 1,5 и 100 мрад, т.е. диаметр изображения на сетчатке лежит между 25 и 1700 мкм. Эти пределы относятся к времени экспозиции меньше, чем 0,7 с.
В настоящем стандарте удлиненный промежуточный источник охватывает углы между 11 и 100 мрад, т.е. диаметр изображения на сетчатке лежит между 187 и 1700 мкм. Эти пределы не превышают время экспозиции больше 10 с.
Для времени экспозиции между 0,7 и 10 с стягиваемый угол промежуточного источника зависит от времени экспозиции (таблица 3).
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > intermediate source
-
29 dispositif de formation d'images
сущ.радио. датчик изображений, прибор, создающий изображение, прибор, формирующий изображениеФранцузско-русский универсальный словарь > dispositif de formation d'images
-
30 dispositif à image
сущ.радио. датчик изображений, прибор, создающий изображение, прибор, формирующий изображениеФранцузско-русский универсальный словарь > dispositif à image
-
31 image light
1. изображающий свет; свет, формирующий изображение2. свет, освещающий изображение (напр., оригинала при копировании)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > image light
-
32 электронный микроскоп
электронный микроскоп
Микроскоп для наблюдения и фотографирования многократного (до 106 раз) увелич. изображения объекта, в к-ром вместо световых лучей используются пучки эл-нов, ускоренных до больших энергий (30—100 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума (1& +10 Па). В 1928 г. немец. ученые М. Кнолль и Р. Руске приступили к созданию первого магнитного просвечив. э. м. (ПЭМ) и спустя три года получили изображение объекта, сформиров. пучками эл-нов. Разрешающая способность (PC) совр. ПЭМ составляет 0,2—1,0 нм. Толщина, к-рую можно «просветить» эл-ным пучком, зависит от ускоряющего напряжения. В э. м. с напряжением 100 кВ изучают объекты толщиной от одного до неск. сотен нанометров.
ПЭМ подразделяют на три группы: э. м. высокого разрешения (0,2-0,3 нм), упрощенные ПЭМ и э. м. с повышенным ускоряющим напряжением. К 1-й группе относят универс. м. многоцел. назнач. с дополнит, устр-вами и приставками, позволяющими наклонять объект в разных плоскостях на большие углы, нагревать, охлаждать, деформировать его, вести РСА и пр. Упрощ. ПЭМ предназн. дляисследований, в к-рых не требуется высокая PC. Они более просты по конструкции, их отличают меньшее (обычно 60-80 кВ) ускор. напряж. и более низкая его стабильность. PC этих ПЭМ 0,6-1,5 нм. ПЭМ с повыш. ускоряющим напряжением (от 200 кВ) предназн. для исследования объектов в 2-3 раза толще ис-след. на обычных РЭМ. Их PC достигает 0,3— 0,5 нм. Созданы тж. сверхвысоковольтные э. м. (СВЭМ) высотой от 5 до 15 м с ускор. напряжением 0,5-0,65; 1-1,5 и 3 MB, предназнач. для исслед. объектов толщиной до 10 мкм. PC СВЭМ в 10-20 раз превосходит PC 100-кВ ПЭМ.
[ http://metaltrade.ru/abc/a.htm]Тематики
EN
D. Elektronenmikroskop
E. Electron Microscope
F. Microscope électronique
-
Микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками средствами электронной оптики
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > электронный микроскоп
-
33 electron microscope
электронный микроскоп
Микроскоп для наблюдения и фотографирования многократного (до 106 раз) увелич. изображения объекта, в к-ром вместо световых лучей используются пучки эл-нов, ускоренных до больших энергий (30—100 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума (1& +10 Па). В 1928 г. немец. ученые М. Кнолль и Р. Руске приступили к созданию первого магнитного просвечив. э. м. (ПЭМ) и спустя три года получили изображение объекта, сформиров. пучками эл-нов. Разрешающая способность (PC) совр. ПЭМ составляет 0,2—1,0 нм. Толщина, к-рую можно «просветить» эл-ным пучком, зависит от ускоряющего напряжения. В э. м. с напряжением 100 кВ изучают объекты толщиной от одного до неск. сотен нанометров.
ПЭМ подразделяют на три группы: э. м. высокого разрешения (0,2-0,3 нм), упрощенные ПЭМ и э. м. с повышенным ускоряющим напряжением. К 1-й группе относят универс. м. многоцел. назнач. с дополнит, устр-вами и приставками, позволяющими наклонять объект в разных плоскостях на большие углы, нагревать, охлаждать, деформировать его, вести РСА и пр. Упрощ. ПЭМ предназн. дляисследований, в к-рых не требуется высокая PC. Они более просты по конструкции, их отличают меньшее (обычно 60-80 кВ) ускор. напряж. и более низкая его стабильность. PC этих ПЭМ 0,6-1,5 нм. ПЭМ с повыш. ускоряющим напряжением (от 200 кВ) предназн. для исследования объектов в 2-3 раза толще ис-след. на обычных РЭМ. Их PC достигает 0,3— 0,5 нм. Созданы тж. сверхвысоковольтные э. м. (СВЭМ) высотой от 5 до 15 м с ускор. напряжением 0,5-0,65; 1-1,5 и 3 MB, предназнач. для исслед. объектов толщиной до 10 мкм. PC СВЭМ в 10-20 раз превосходит PC 100-кВ ПЭМ.
[ http://metaltrade.ru/abc/a.htm]Тематики
EN
D. Elektronenmikroskop
E. Electron Microscope
F. Microscope électronique
-
Микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками средствами электронной оптики
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > electron microscope
-
34 image electrode
Полиграфия: электрод, формирующий изображение -
35 image-forming electrode
Полиграфия: электрод, формирующий изображениеУниверсальный англо-русский словарь > image-forming electrode
-
36 image-forming photocathode
Безопасность: фотокатод, формирующий изображениеУниверсальный англо-русский словарь > image-forming photocathode
-
37 image-forming spectrometer
1) Техника: спектрометр с формированием изображения2) Телекоммуникации: спектрометр с формирователем изображения3) Электроника: спектрометр, формирующий изображениеУниверсальный англо-русский словарь > image-forming spectrometer
-
38 imaging spectrometer
1) Техника: видеоспектрометр2) Космонавтика: спектрометр видеодиапазона3) Безопасность: спектрометр, формирующий изображение -
39 spherical crystal imaging spectrometer
Универсальный англо-русский словарь > spherical crystal imaging spectrometer
-
40 SCIS
spherical crystal imaging spectrometer - сферический кристаллический спектрометр, формирующий изображение
См. также в других словарях:
Сложный глаз — Формирующий изображение глаз членистоногих, состоящий из пучка (сотен или тысяч) узких трубок, называемых омматидиями и имеющими на наружной поверхности хрусталик, а в центре нервное волокно, которое передает раздражение. Наружная поверхность… … Психология ощущений: глоссарий
ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения — Терминология ГОСТ 21006 75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа: 12. V образный катод Нрк. Шпилькообразный катод Катод, изготовленный из проволоки, согнутой под острым углом, вершина которого… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
растровый электронный микроскоп — (РЭМ): Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом. [ГОСТ 21006 75, статья 3] Источник … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ Р МЭК/ТО 60825-9-2009: Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 9. Компиляция максимально допустимой экспозиции некогерентного оптического излучения — Терминология ГОСТ Р МЭК/ТО 60825 9 2009: Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 9. Компиляция максимально допустимой экспозиции некогерентного оптического излучения: 3.3 апертура, конечная апертура (aperture, aperture stop): Конечная апертура… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
промежуточный источник — 3.17 промежуточный источник (intermediate source): В основном, источник, формирующий изображение на сетчатке, такой большой, что тепловой поток в радиальном направлении (перпендикулярно оптической оси) от центра изображения к ближайшей границе… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ Р 8.631-2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки — Терминология ГОСТ Р 8.631 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки оригинал документа: 3.11 видеопрофиль информативного сигнала (видеопрофиль): Графическая зависимость… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ Р 8.636-2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки — Терминология ГОСТ Р 8.636 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки оригинал документа: 3.10 видеопрофиль информативного сигнала (видеопрофиль): Графическая зависимость… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ 8.594-2009: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки — Терминология ГОСТ 8.594 2009: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки оригинал документа: 3.10 видеопрофиль информативного сигнала (видеопрофиль): Графическая зависимость значения … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ДИСТАНЦИОННОЕ ЗОНДИРОВАНИЕ — сбор информации об объекте или явлении с помощью регистрирующего прибора, не находящегося в непосредственном контакте с данным объектом или явлением. Термин дистанционное зондирование обычно включает в себя регистрацию (запись) электромагнитных… … Энциклопедия Кольера
глаз — а ( у), предл. о глазе, в глазу; мн. глаза, глаз, глазам; м. 1. Парный орган зрения человека и животного, расположенный в глазных впадинах (лица, морды) и прикрываемый веками с ресницами. Анатомия глаза. Болезни глаз. Левый, правый г. Большие,… … Энциклопедический словарь
OpenStreetMap — OpenStreetMap … Википедия