-
1 вторичные электроны
вторичные электроны
—
[Я.Н.Лугинский, М.С.Фези-Жилинская, Ю.С.Кабиров. Англо-русский словарь по электротехнике и электроэнергетике, Москва, 1999 г.]Тематики
- электротехника, основные понятия
EN
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > вторичные электроны
-
2 вторичные электроны
ua\ \ вторинні електрониen\ \ secondary electronsde\ \ Sekundärelectronenfr\ \ \ électrons secondairesэлектроны, испускаемые образцом при облучении его электронным пучком -
3 вторичные электроны
1) Makarov: SE2) Electrical engineering: secondary electronsУниверсальный русско-английский словарь > вторичные электроны
-
4 вторичная эмиссия
Вторичная эмиссияИспускание элементарных частиц веществом, например, газом или металлической поверхностью, при бомбардировке его первичным (только что порожденным) излучением или частицами. Так, вторичные космические лучи испускаются при бомбардировке атмосферы первичными космическими лучами, а анод электронной трубки испускает вторичные электроны при его бомбардировке первичными электронами из катода. Этот принцип применяется в фотоэлектронных умножителях, например, в усилителе изображения.Russian-English dictionary of Nanotechnology > вторичная эмиссия
-
5 secondary emission
Вторичная эмиссияИспускание элементарных частиц веществом, например, газом или металлической поверхностью, при бомбардировке его первичным (только что порожденным) излучением или частицами. Так, вторичные космические лучи испускаются при бомбардировке атмосферы первичными космическими лучами, а анод электронной трубки испускает вторичные электроны при его бомбардировке первичными электронами из катода. Этот принцип применяется в фотоэлектронных умножителях, например, в усилителе изображения.Russian-English dictionary of Nanotechnology > secondary emission
-
6 to generate
1. выбивать (напр., вторичные электроны)2. формировать (напр., электронный луч)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > to generate
-
7 перераспределение вторичных электронов
перераспределение вторичных электронов
Попадание вторичных электронов на элементы мишени, не облучаемые первичным электронным пучком (лучом), создающим эти вторичные электроны.
[ ГОСТ 17791-82]Тематики
EN
DE
FR
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > перераспределение вторичных электронов
-
8 электрон
I (сплав)ua\ \ електронen\ \ elektronde\ \ Elektronfr\ \ \ élektronобщее название литейных и деформируемых магниевых сплавов универсального назначения; содержат до 12% Al, 5,5% Zn, 1,5% Μn, а также Th, Zr, РЗМ\II (частица)ua\ \ електронen\ \ electronde\ \ Elektronfr\ \ \ électronстабильная элементарная частица с отрицательным электрическим зарядом, принятым за единицу отрицательного количества электричества, и наименьшей из известных массой покоя (9,11·10-31 кг); открыт Дж.Томпсоном в 1897 г.; различают валентные электроны (электроны участвующие или могущие участвовать в образовании химических связей), s-, p-, d-, f-электроны (электроны в атомах, имеющие соответственно орбитальное квантовое число, равное 0, 1, 2, 3), π-электроны (электроны, участвующие в образовании π-связей); при взаимодействии с твердым телом наблюдаются отраженные (упруго отраженные от поверхности тела), поглощенные (прошедшие в твердое тело) и вторичные (испускаемые твердыми телами при их бомбардировке пучками электронов) электроны -
9 сканирующий электронный микроскоп
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Russian-English dictionary of Nanotechnology > сканирующий электронный микроскоп
-
10 scanning electron microscope
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Russian-English dictionary of Nanotechnology > scanning electron microscope
См. также в других словарях:
вторичные электроны — — [Я.Н.Лугинский, М.С.Фези Жилинская, Ю.С.Кабиров. Англо русский словарь по электротехнике и электроэнергетике, Москва, 1999 г.] Тематики электротехника, основные понятия EN secondary electronsSE … Справочник технического переводчика
медленные вторичные электроны — 3.21 медленные вторичные электроны; МВЭ: Группа вторичных электронов, возникающая в результате взаимодействия электронного зонда с исследуемым объектом, энергия которых не превышает 50 эВ (≈ 8×10 18 Дж). Источник … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
Растровый электронный микроскоп — … Википедия
Гамма-спектрометр — прибор для измерения спектра гамма излучения (См. Гамма излучение). В большинстве Г. с. энергия и интенсивность потока γ квантов определяются не непосредственно, а измерением энергии и интенсивности потока вторичных заряженных частиц,… … Большая советская энциклопедия
Вторичная электронная эмиссия — испускание электронов поверхностью твёрдого тела при её бомбардировке электронами. Открыта в 1902 немецкими физиками Аустином и Г. Штарке. Электроны, бомбардирующие тело, называются первичными, испущенные вторичными. Часть первичных… … Большая советская энциклопедия
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор, который позволяет получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. Электронный микроскоп (ЭМ) дает возможность видеть детали, слишком мелкие, чтобы их мог разрешить световой (оптический) микроскоп.… … Энциклопедия Кольера
РЭМ — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать … Википедия
Растровый электронный микроскоп (РЭМ) — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать … Википедия
Радиационная химия — область химии, охватывающая химические процессы, вызываемые действием ионизирующих излучений (См. Ионизирующие излучения) на вещество. Ионизирующей способностью обладают как электромагнитные излучения (рентгеновские лучи, γ лучи,… … Большая советская энциклопедия
РАДИАЦИбННО-ХИМИЧЕСКИЕ РЕАКЦИИ — совокупность хим. и физ. хим. превращений в в под действием ионизирующего излучения. Предшествующие этим превращениям физ. процессы взаимод. излучения с в вом обычно также рассматривают как стадию Р. х. р. Нек рые из этих процессов и превращений… … Химическая энциклопедия
Счётчик Гейгера — СИ 8Б (СССР) со слюдяным окошком для измерения мягкого β излучения. Окно прозрачно, под ним можно разглядеть спиральный проволочный электрод, другим электродом является корпус прибора … Википедия